Sulpice A., Li C., Feng J., Zhang S., Hao Q., Zhang P.*1French National Center Scientific Research
Ключевые слова: HTS, Bi2212, tapes, composition, PIT process, phase composition, X-ray diffraction, critical temperature, lattice parameter, critical current density, microstructure, magnetization, temperature dependence, Jc/B curves, pinning force, magnetic field dependence, experimental results
J Materials Science - Materials Electronics, 2017, v.28, N 15, p.11521-11527
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.